. Annexes,

S. Volz, M. Nano-thermique, and C. Editions, , 2007.

, www.parkAFM.com, Scanning ThermalMicroscopy (SThM)

, ExpSiO2=zeros, vol.1812

, 1)=x, ExpSiO2

, ExpSiO2, vol.7112070, pp.2-500

, ExpPt=zeros, vol.1812

, 1)=x, ExpPt

, ExpPt, vol.7112070, pp.2-500

%. Exppt, , pp.500-277

, Exp_Pt_SiO2=zeros, vol.1812

, 1)=x, Exp_Pt_SiO2

, Exp_Pt_SiO2, vol.7112070, pp.2-500

%. Exp_pt_sio2, , pp.500-277

, G:\Stage\Stage 2013_FEKIRI\Partie Expérimentale\Mesure\mesure_16_04_2013\mesure_16_04_2013\T_Comsol_1

, T_Comsol_1; load('G:\Stage\Stage 2013_FEKIRI\Partie Expérimentale\Mesure\mesure_16_04_2013\mesure_16_04_2013\T2, Comsol =

, COMSOL = T2; load('G:\Stage\Stage 2013_FEKIRI\Partie Expérimentale\Mesure\mesure_16_04_2013\mesure_16_04_2013\T3

C. ,

, C = sortrows(Comsol, vol.1

, C1=sortrows(COMSOL, vol.1

, D=sortrows, vol.21