Article Dans Une Revue
Applied optics
Année : 2010
LAURENT BROCH : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.univ-lorraine.fr/hal-02900595
Soumis le : jeudi 16 juillet 2020-11:32:42
Dernière modification le : lundi 18 novembre 2024-09:07:06
Citer
Laurent Broch, Aotmane En Naciri, Luc Johann. Second-order systematic errors in Mueller matrix dual rotating compensator ellipsometry. Applied optics, 2010, 49 (17), pp.3250. ⟨10.1364/AO.49.003250⟩. ⟨hal-02900595⟩
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