Article Dans Une Revue
Thin Solid Films
Année : 2011
LAURENT BROCH : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.univ-lorraine.fr/hal-02900601
Soumis le : jeudi 16 juillet 2020-11:34:54
Dernière modification le : lundi 14 octobre 2024-18:20:52
Citer
Laurent Broch, Aotmane En Naciri, Luc Johann. Analysis of systematic errors in Mueller matrix ellipsometry as a function of the retardance of the dual rotating compensators. Thin Solid Films, 2011, 519 (9), pp.2601-2603. ⟨10.1016/j.tsf.2010.12.046⟩. ⟨hal-02900601⟩
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