3.2, nous avons montré que le pic situé entre 8 ,
URL : https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00439893
vne étude préliminaire sur un échantillon déformé à20% a permis de démontrer que les valeurs descriptives de chaque raie varient en fonction de I'angle azimutal et de la déformation. Il n'est malheureusement pas possible de séparer correctement ces deux raies par lissage pour toutes les directions de mesure ,
Évolution de I'aire de la raie double {(001)o'(001)ô'} en fonction de I'angle azimutal et de la déformation Annexc ll -Mesurr,:s d<r diffractiorr d*s RX at..;x grarrds an, Eles, vol.20 ,
II-8 : Diffractogramme non corrigé en réflexion 0e= 5o ,
II-9 : Zone masquée par l'échantillon en réflexion 1 .o plan de référence de l'échantillon ilDN Yg ,
point p(e-, VÀ qi est le projeté stéréographique du point P. Ce dernier est l'intersection de la sphère des pôles avec la bissectrice i. lFigur. A.II-12) de l'angle fait entre les faisceaux incident et diffusé (cf. $A.II.I.4 -Figure A.II-3). L'axe f,r étant devenu I'axe azimutal, sa limitation à 90o dû au berceau (Figure A.II-7) en rotation limite les mesures en azimut sur un quart de la FDPG. Or, la loi de Friedel [00], étendue au matériau quelconque, établit que le phénomène de diffraction des rayons X impose un centre de symétrie à la structure. Par exemple, dans les matériaux polycristallins, l'intensité diffractée sur les deux faces opposées limitant une famille de plans est égale, Cette loi nous permet de pallier au problème du berceau limité à 90o. En effet, des rotations complémentaires autour des axes 0r et Qr nous ont permis de mesurer l'information à une position quelconque en azimut sur la FDPG. La méthode revient à mesurer une partie de I'information sur l'hémisphère nord et I'autre sur I'hémisphère sud de la sphère des pôles ,
représenté sur le schéma Figure A.II-12. Le plan de référence de l'échantillon et de la FDPG est (DL, DT) DT est dans la direction de I'axe ,ir p* convention. DN est dans la direction de I'axe azimutal tltr ,
1. Description et Installation Les clichés de DCRX ont été réalisés par MM. Cairati et Barré à I'IFP. Le montage utilisé a été réalisé a I'IFP (cf. Figure A.III-l) ,
URL : https://hal.archives-ouvertes.fr/in2p3-00363188
Les clichés ont été mesurés avec une anode de Cu (Àro:1.5418 Â) Le faisceau polychromatique tombe sur un miroir (Silice recouverte d'un fin dépôt d'or) courbé qui focalise le faisceau réfléchi sur le détecteur et élimine les courtes longueurs d'onde. Une série de fentes limite le faisceau dans les plans horizontaux et verticaux Une fente antidiffusante (0.5mm*1mm) est placée devant l'échantillon pour limiter la diffusion parasite due à I'optique utilisée. Le détecteur utilisé est un proportionnel lD à localisation Elphyse@ (résolution 150 pm ) couplé à un analyseur multicanal Camberra@. La distance échantillon détecteur peut varier entre 25 et 85 cm, soit un domaine de p (A.I-1) compris entre 0 ,
Fentec / Détecteur Figure A.III-l : Schéma du montage DCRX de I', 1994. ,
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