.. Modes-de-défaillance-Électriqu?,

/. Di and R. ,

2. Modes-de-défaillance-Électrique-des, , p.39

.. Modes-de-défaillance-physiqu?, , p.41

, dildt: 180 A/p,s et î:21,5 A (pièce H) : In:4 p4

T. Dégradé-avec-un-di, /. , and P. , 44 II.2.l .4 TRIAC dégradé avec un dildt : 94 A/trs et î : 8,5 A (pièce 28-Z) I IR : 10 pA, pp.5-8

T. Dégradé-avec-un-di, /. , and P. , A (pièce l9-3) : In> 5048 II.2.1.7 TRIAC dégradé avec un di/dt :94 A/ps et î -8,5 A (pièce no 9-3)

.. , , p.58

P. , -400 A/ps (pièce 3-19): c-c Ip et Io> 5058 1I.2.2.2 TRIAC dégradé avecun di/dt: -400 A/ps (pièce 6-19): c-c Ip, p.63

T. Dégradé-avec-un-di-pa......., dt: -360 A/ps (pièce l-24): In et Io> 50, p.63

T. Dégradé-avec-un-dildt and P. , Ip et Io> 5068 II.2.2.7 TRIAC dégradé avec un di/dt: -360 A/Irs (pièce 7-24): Ip et In> 50, et In> 50 pA.........69 Synthèse ......69

V. Chapitre, G. Durcissement-et-méthodologie, and .. !. Durcissement-et-methodologie, , p.153

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, Défauts ponctuels volumiques des émetteurs, p.161

, 1.1 Défauts ponctuels de l'émetteur N3+ en face arrière ... I 6l V.2.1.2 Défauts ponctuels de l'émetteur Nl+ en face avant

, Défauts d'interface du contact métal semi-conducteur, p.163

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L. and F. ,

. Fatigue-thermique-ou-test-cyclique-de-puissance.......,

C. and .. .. , repetitive surge")

. Chocs-thermiques-par-di-/-dt...,

.. Lois-d-'accélération,

. .. Loi-d-'arrhenius,

.. Loi-d-'eyring,

. Loi-de-puissance-inverse....,

H. Loi-température,

.. Loi-température-non-thermique, , p.219

D. Modèles-physiques-du-simulateur and I. ,

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D. I. ,

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R. ,

. .. Avalanche-d-'une-jonction,

, Dépendance des modèles avec le dopage et le champ .221 D.2

.. Dépendance-des-durées-de-vie-avec-le-dopage,

.. Dépendance-de-la-mobilité-des-porteurs-avec-le-champ-Électrique,

. .. Mobilité-À-faible-champ,

.. Dépendance-de-la-mobilité-de-volume-avec-le-dopage,

. Dépendance-des-modèles-avec-la-température.......,

.. Dépendance-de-la-mobilité-avec-la-température,

. Dépendance-des-durées-de-vie-avec-la-température...,

, Dépendance de la concentration intrinsèque avec la température

.. Modèle-thermodynamique,

. Dépendance-de-la-conductivité-thermique-avec-la-température........,

. Dépendance-de-la-capacité-thermique-avec-la-température......., ) Annexes k : constante de Boltzmann; T : température en Kelvtn

, D, vol.7, issue.5

, Avalanche d'une jonction

, La génération de paires électron-trou par avalanche (ionisation par impact) nécessite un champ électrique critique ainsi gue, pour la possibilité d'accélération, une zone de charge d'espace large. Le taux de génération peut s'écrire : G : crnflvn + crppvp (24) vn,o est la vitesse d'entraînement des électrons et trous

, est le coefficient d'ionisation (ou facteur de multiplication) des électrons et trous

, Trois modèles d'ionisation sont implémentés dans DESSIS : cr(F) =

L. Yu and . Tr,

I. Dans, D. , and L. Quantité, peut être I'amplitude du vecteur champ électrostatique F : lFl tl (mot clé ElectricField dans le champ Avalanche du groupe Recombination de la carte Physics du fichier DES, CMD), une composante du champ électrostatique dans la direction du courant

, Dépendance des modèles avec le dopage et le champ D.2

, Dépendance des durées de vie avec le dopage

, Le simulateur utilise la relation empirique de Scharfetter : tnest la durée de vie des électrons, r"(max)-10-5s par défaut, Nr"r: défaut, N est la concentration de la région. (26) F Fichiers de simulation ISE-SOLIDIS SOLIDIS

, 1 Fichier de commande SOL.CMD Field Temp Displl DispZ Include sol-par (* Set Constant Enuironnent { PlateThickness {100

, Set Zone f,llZone Êtll'lE Set Zone ChipZone Haterial Silicon Set Boundary bottom Field DispX Dirichlet û-0

, Set Boundary symmetrg Field DispX Dirichlet

, Set UserFie1d Heatsource Zone GhipZone Product

, XDistribution Sptine xdist ZDistribution SpIine zdist Zone GhipZone

, ttDistribution Gauss, vol.20

, ZDistribution Gauss 2 [tf'fn**31

, Set l'lodel llechanicalParameterTDep fitll'lE 0n Set lrlodel ThernalParameterTDep fiIltlE 0n *)

, Set LinearSoluer Super Do Solue Stationary Set Befine Diffuse 1

, Estimation par maximum de vraisemblance L'estimation par maximum de vraisemblance (MLE) des paramètres d'un modèle statistique consiste à maximiser la vraisemblance, ou le logarithme de la vraisemblance, d'obtenir les données

. Soit, un échantillon aléatoire, incluant les ternps de défaillance et les temps de censure Soit f(0 ; x) la densité de probabilité, S(0 ; x) la fonction fiabilité et F(0 ; x) la fonction de répartition (F : I -S) Les fonctions densité de probabilité, de fiabilité et de répartition dépendent de la loi de distribution sélectionnée pour le modèle statistique. Le logarithme de la waisemblance s'écrit : L(e)-Itog(r(e;*,))+ftog(s(e, *,))*I[toe(e(e;*..,))-tog(r(e;*,)) (3s) La première sommation est sur les unités défaillantes, p.*ftog(r(e

, La seconde sommation est sur les unités censurées à droite

, La troisième sommation est sur les unités censurées à gauche (les pièces qui se sont dégradées dans I'intervalle [0

, La dernière sommation est sur les unités censurées par intervalle, et [xri xui] est I'intervalle dans lequel I'unité no i est censurée

G. Script, Matlab du maximum de vraisemblance Il faut utiliser un algorithme qui permet de déterminer le vecteur 0 maximisant L. La fonction FMINLINC de la Toolbox Optimization de Matlab est parfaitement adaptée à résoudre ce genre de problème

, Les deux paramètres de la distribution de Weibull cr et B sont d'abord estimés par moindres carrés, puis un changement de variable est effectué pour obtenir p et o

, vraisemblance LOG en faisant varier les paramètres p et o. Les données nécessaires sont également introduites : temps d'inspection x, le nombre d'unités défaillantes f

F. En-sortie-de-la-fonction, ainsi que la matrice des dérivées secondes H. Le négatif de I'inverse de cette matrice H est appelé la matrice de Fisher dont les termes diagonaux sont les variances de p et o

, Cette interface permet de fracer les courbes de probabilité de Weibull en déterminant certaines conditions : Médians)

, Les données peuvent être extraites de deux types de fichiers : deuxième au nombre de pièces défaillantes)

, Un champ supplémentaire permet de calculer la durée de vie ainsi que I'intervalle de confiance sur le ternps pour x ppm

. Fig, Interface graphique du programme d'analyse de survie sous Matlab. ii,i.';;:i.l H Banc de test de fiabilité H.l Banc de commutation Le banc de commutation des TRIACs est représenté sur la figure 85. Il est constitué pour la partie puissance d'un transformateur qui assure I'isolation par rapport au secteur et d'une platine qui peut supporter 40 TRIACs

. La-platine-de, 40 TRIACs est évolutive car elle est constituée de plusieurs modules élémentaires qui sont raccordés ensemble Un module élémentaire pour 5 TRIACs est représenté sur la figure 86. Chaque TRIAC est mis en parallèle avec un CALC. Les condensateurs de 47 nF sont auto-cicatrisants, afin d'éviter tout problème de fiabilité à ce niveau