, Axe optique parallèle à I'interface et perpendiculaire au plan d'incidence (@ -g0

L. De-même and . Matrice,

, Les équations (2.104) et (2.I07) donnent (B.45)

. Si-orr-pose, cos f + (n', -,kj) cos e ) (n cos d * -(rn"r"cosd -n1@sn7) ,f*"r"e= , .r. ia Rr, pp.3-5

, @\lN3 -n2 sin02 + N3 cos d)(-N3-n2sind2*ncosd) 0

, allèle à Ia surface c2 : (rn.r"cos d -nfÇsn*) rcos g * uq

, + -@Z-rc!)cosr) a","f; ca : (, ^.r" f; + @Z -rcz") cos t) f"cos d -,AE

, A c4 (r,"r"cosd + n1fisn*) rcoss -,rc * * @Z -ri) cos t) A"t^|, orr obtient les relations suivantes, pp.47-55

, Ean't eia clca ï c2C4 .c1c4 -c2ca cT, pp.2-2

, tanilt : ^l# ' v câ+cz ^^^A, p.24

-. Ae,

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E. , H. , D. , B. , and P. , Liste des Figures 1.1 Définition des plans d'onde et de vibration, Disposition relative des vecteurs

, Représentation de la surfaces des indices

, Ellipsoïde des indices trliipsoïde des indices dans un milieu uniaxe anisotrope, pp.20-22

, Réflexion et réfraction sur la surface du cristal. Paramètres de l'état de polarisation elliptique. Différerrtes formes de I'ellipse en fonction du déphasage

, Représentation d'une lumière polarisée rectilignement. a) le long de l'axe Ox; b) le long de I'axe Oy; c)avec une orientation de 45" par rapport à I'axe Ox

, Réflexion et transmission d'une onde plane monochromatique sur une surface plane séparant les deux milieux 0 et 1. 0 et 01sont, respectivement, les angles d'incidence et de réfraction

, Schéma d'un ellipsomètre à extinction

, Schéma d'un ellipsomètre photométrique à élément tournant

, Paramètres ellipsométriques calculés pour un cristal uniaxe pour les azimuts (ç : 0,30o,50o et 90") en fonction de I'angle d'incidence à À : 0,49p, pp.724-0523

, dice du milieu ambiant est n:1. OD ô LISTE DES FIGURES

, Paramètres ellipsométriques généralisés en fonction de I'azimut rp à À :0,49p,m calculés pour un cristal uniaxe

, Variation d. X2 en fonction de l'épaisseur de silice

, Variation de X2 en fonction des indices ordinaire et extraordinaire d'un substrat anisotrope

, Schéma du montage de I'ellipsomètre spectroscopique (PRPSE)

, La maille primitive de HgI2

, La structure de bande de HgI2 avec interaction spin orbite

, La structure de bande de HgI2 près du centre de la zone

, Spectres expérimentaux de l'échantillon HgI2 avec l'axe optique perpendiculaire à la surface en fonction de la longueur d'onde et de I

, Indices obtenus pour HgI2 avec l'axe optique perpendiculaire à la surface

, Les courbes en traits pleins sont Ie résultat de la procédure d'ajustement. Ces indices ne représentent pas I'anisotropie optique de HgI2. À noter qu'il ne s'agit pas non plus de la moyenne entre les indices ordinaire et extraordinaire

, Normale à I'échantillon confondue avec I'axe de rotation

, Sensibilité de l'eilipsomètre à la mesure en fonction de I'angle de rotation de l'échantillon rp, pp.69-72

V. Mesure-de-tan and . Et-cos-a-montage-en-ligne, Spectres expérimentaux de HgI2 à plusieurs angles d'incidence : 50o, 55o, 60o et 65o. L'axe optique du cristal est parallèle au plan d'incidence (cp : o'). . 100

N. and S. F. ,

, Specttes expérimentaux de HgI2 avec axe optique normal au plan d'incidence à plusieurs angles d'incidence : 50", 55o, 60o. et 65'. (b)Spectres expérimentaux de HgI2 à I'angle d'incidence de 70' pour deux orientations ducristale, pp.0-90101

, Constantes optiques ordinaire et extraordinaire de HgI2 en comparant avec les résultats de la littérature. L'erreur relative est de I'ordre de 0, pp.2-103

, Comparaison entre Ies spectres expérimentaux de tan t[ et de cos A à l'angle d'incidence 70' et à I : 0' réalisés sur HgI2 directement après polissage puis après 30 heures d'exposition à I'air

, Indices ordinaire rrrl et extraordinaire n"; du fi.lm mesurés en fonction de À sur les échantillons de HgI2

, Comparaison entre les spectres expérimentaux de tan![r et cosA réalisés sur HgI2 après polissage et des spectres calculés à partir d'un modèle de surface avec un film uniaxe transparent de 9

, Images AFM obtenues sur la surface de HgI2 : (a) avant le traitement; (b) 12 minutes après le traitement; (c) 545 heures après le traitement avec

, Ll2

, Comparaison entre les spectres expérimentaux de tanr! et cosA mesurés et modélisés pour l'échantillon HgI2 traité avec une solution de KI puis rincé à I'eau déionisée pendant 20 s. Une bonne corrélation est obtenue 105

, entre les spectres expérimentaux et simulés'

, 19 (a)Evolution de Ia masse résiduelle de KHgI3 en fonction du temps de traitement au KI [100]. (b)Evolution de l'épaisseur de KHeIg en fonction du temps de traitement au KI, pp.115-122

, ,o'n"et on" mesurés sur la surface de HgI2 en fonction de I'azimut p à l'énergie E:1