, Photographie 5.3: Doigts de base et d'émetteur (grossissement: 5m x)
, Photographie 5 Défaut de passivation (MEB) Références bibliograPhiques [1] S.M. Sze Physics of Semicondrrctor Devices Wiley Interscience, 1981.
Grove Physics and Technology of Semiconductor Devices Wiley, 1967. ,
Castagné Dispositifs et circuits intégrés semi-conducteurs Dunod, 1987. ,
Simonne Principes et fonctions de l'électronique intégrée Cepadues Editione, 1986. ,
, Kittel Physique de l'état solide Dunod, cinquiène édition, 1983.
Editions lechniques et scientifiqueo Françaises, 1984. ,
Bajenesco Problèmes de la fiabilité des composants électroniques actifs actuels Masson, 1980. ,
composants et technologie électronique loulouse mars 1986 Cepadues Editions, 1986. ,
Mathonnet Evacuation de la chaleur dissipée dans les équipements électroniques Eyrolles, 1978. ,
F\rqua Reliability Engineering for Electronic Design Marcel Dekker, 1987. ,
, Michael Shur GaAs Devices and Circuits, 1987.
Ledwith The Chemistry of the Semiconductor Industry Blackie, 1987. ,
, Ashbrrrn Deoign and Realization of Bipola^r Transistors, 1988.
,
, Laboratoire Central des Industries Electriques Le test et la qualité des circuits intégrés ANVAR, 1989.
, Black RF Power Transistor Metallization Failure I, E.E.E. Transactions on Electron Devices, vol.17, issue.9, 1970.
Surty steady-state Junction Temperatures of semiconductor chips I, E.E.E. Transactions on Electron Devices, vol.19, issue.l ,
Sanehiko Kakihana Lea^kage and lrpB Degradation in Microutave Bipolar transistors I, E.E.E. Transactions on Electron Devices, vol.21, issue.11 ,
, Ttansactions on Electron Devices, 1974.
Shenvin Rubin Thermal Cha,racterization of Power Tbansistorg Navon Factors Limiting current Gain in Power Transistors I, E.E.E. Transactions on Electron Devices, issue.10, p.24 ,
Childers semiconductor Tnstability Failure Mechanisms Review I, E.E.E. Ttansactions of Reliability, issue.3, 1980. ,
, 25] \ileisberg L.R Electroluminescent diode degradation models 8th annual proceedings Reliability Physics, 1970.
, Thomas The mechanisms of degradation in an optically coupled isolator 14th annual proceedings Reliability Physics, 1976.
, Dumas Contribution à l'étude des mécanismes de dégradation du transistor à effet de cha,mP sur AsGa Thèse, 1985.
, Dumas Fiabilité et défaillances des composants pour hyperfréquences
, Annales des Télécommunications, 1985.
, Le Bloa Méthodes d'analyse des signauxmulti-e,xponentiels utiliséo en spectroscopie électrique des défauts profonds dans les semi{onducteurs' Application au GaAs implanté en o:rygène ou en oxygène et en silicium
, 8.1 Lannion) Photocoupleurs: résultats d'essais de vieillissement longue durée Congrès national de fiabilité, Thèse, 1976.
Pollino Une première étude sur la fiabilité des diodes de burrus à haute radiance Second colloque international sur la fiabilité et la maintenabilité ,
, Perros Guirec, septembre, 1980.