Nitrogen redistribution in annealed LaFeOxNy thin films investigated by FTIR spectroscopy and EELS mapping - Université de Lorraine Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Applied Surface Science Année : 2018

Nitrogen redistribution in annealed LaFeOxNy thin films investigated by FTIR spectroscopy and EELS mapping

Emile Haye
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Silvère Barrat
Fabien Capon
Stéphanie Bruyère

Domaines

Chimie
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03936073 , version 1 (12-01-2023)

Identifiants

Citer

Emile Haye, Victor Pierron, Silvère Barrat, Fabien Capon, Frans Munnik, et al.. Nitrogen redistribution in annealed LaFeOxNy thin films investigated by FTIR spectroscopy and EELS mapping. Applied Surface Science, 2018, 427, pp.1041-1045. ⟨10.1016/j.apsusc.2017.09.090⟩. ⟨hal-03936073⟩
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