Crystalline quality of highly oriented diamond films grown on 〈100〉 silicon studied by conventional TEM - Université de Lorraine
Article Dans Une Revue Diamond and Related Materials Année : 1997

Crystalline quality of highly oriented diamond films grown on 〈100〉 silicon studied by conventional TEM

Domaines

Chimie

Silvere Barrat  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.univ-lorraine.fr/hal-03978958

Soumis le : mercredi 8 février 2023-14:58:51

Dernière modification le : vendredi 19 avril 2024-16:18:55

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03978958 , version 1 (08-02-2023)

Identifiants

Citer

N. Bozzolo, S. Barrat, I. Dieguez, E. Bauer-Grosse. Crystalline quality of highly oriented diamond films grown on 〈100〉 silicon studied by conventional TEM. Diamond and Related Materials, 1997, 6 (1), pp.41-47. ⟨10.1016/S0925-9635(96)00701-7⟩. ⟨hal-03978958⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

ENSMP CNRS ENSMP_CEMEF PARISTECH UNIV-LORRAINE IJL-UL PSL ENSMP_DR
8 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

More