La détection visible de l'EXAFS (extended x-ray absorption fine structure) est une méthode spectroscopique récente qui permet dans certains cas de l'enregistrement du spectre de photoabsorption X et de ses oscillations fines. Le principal avantage escompté est la sélectivité de sites cristallochimiques, qui n'est pas obtenue par les méthodes classiques. Comme l'EXAFS, elle requiert l'emploi du rayonnement synchrotron monochromatisé, et le montage expérimental s'apparente aux techniques XEOL (x-ray emission optical luminescence). Après un rappel de la théorie mise en jeu dans les techniques d'absorption et de fluorescence X. Une analyse XEOL de quelques composés (semiconducteurs, terres rares, porphyrines) est proposée dans une partie expérimentale dont le critère principal est la recherche d'une grande intensité dans les pannes d'émission. Les premiers résultats montrent que l'on a bien également accès, par transformée de Fourier du spectre d'excitation de luminescence, aux distances entre proches voisins dans les systèmes étudies. La sélectivité de site recherchée est atteinte dans l'exemple caractéristique du mélange hétérogène zno/zn tpp. Un transfert d'énergie cohérent est détecté dans certains cas (ex. Zns: tm). Les conditions expérimentales de mesure ont été trouvées déterminantes (échantillons minces, mode réflexion). De plus, la corrélation responsable de la forme exacte du spectre obtenu en détection visible avec les spectres d'absorption ne semble pas élémentaire. Il pourrait donc subsister d'autres limitations a cette méthode