Étude par spectrométrie de masse d'ions secondaires des interfaces Ti/Si3N4, Ag/Si3N4 et Cu/Si3N4

Abstract : Not available
Document type :
Theses
File URL :
http://docnum.univ-lorraine.fr/prive/INPL_T_1998_DUMMLER_W.pdf
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Contributor : Thèses Ul <>
Submitted on : Thursday, March 29, 2018 - 12:54:00 PM
Last modification on : Monday, April 16, 2018 - 10:40:58 AM

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  • HAL Id : tel-01750753, version 1

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Wolfram Dümmler. Étude par spectrométrie de masse d'ions secondaires des interfaces Ti/Si3N4, Ag/Si3N4 et Cu/Si3N4. Autre. Institut National Polytechnique de Lorraine, 1998. Français. ⟨NNT : 1998INPL046N⟩. ⟨tel-01750753⟩

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