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Theses

Modélisation de l'émissivité d'une surface en utilisant une approche fractale

Résumé : L’oxydation des échantillons de tungstène chauffés par effet Joule, est réalisée dans un spectrophotomètre infrarouge sous atmosphère contrôlée (10^-2 torr d'oxygène) et à des températures T [supérieur ou égal] 1100 K pour créer des surfaces rugueuses. La morphologie de la couche d'oxyde est caractérisée par analyseur d'images à partir du cliché d'une coupe réalisée par microscopie électronique à balayage. On assimile l'oxyde à une superposition de films minces, dont l'un hétérogène, contenant la rugosité, est étudié par la théorie de BRUGGMAN en vue de déterminer sa constante diélectrique. Les propriétés optiques d'un corps hétérogène sont interprétées généralement à partir de la théorie des milieux dispersés qui ne tient compte que très partiellement de la rugosité des surfaces. Ce travail expose la conception et l'élaboration d'outils destinés à caractériser l'influence de la complexité et de la forme de la rugosité sur l'émissivité d'une surface, selon une approche originale qui tient compte de la morphologie réelle des surfaces (profils fractals). Le calcul de l'émissivité d'une surface rugueuse est mené de la manière suivante: numérisation des profils expérimentaux calcul de la constante diélectrique d'une couche homogène optiquement équivalente contenant la rugosité du profil considéré calcul du facteur moyen de dépolarisation gm par une méthode originale de remplissage du profil par des ellipsoïdes utilisation de la théorie des films minces, pour calculer l'émissivité monochromatique et directionnelle de cette surface. Une étude analogue a été réalisée sur des profils théoriques crées par interpolation fractale, pour la validation théorique du modèle. Nous mettons en évidence une relation entre la dimension fractale, l'émissivité et le facteur de dépolarisation
Document type :
Theses
File URL :
http://docnum.univ-lorraine.fr/prive/INPL_T_1995_CHAGROUNE_L.pdf
Complete list of metadatas

https://hal.univ-lorraine.fr/tel-01751568
Contributor : Thèses Ul <>
Submitted on : Thursday, March 29, 2018 - 1:21:46 PM
Last modification on : Monday, April 16, 2018 - 10:41:02 AM

Identifiers

  • HAL Id : tel-01751568, version 1

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Citation

Lakhdar Chagroune. Modélisation de l'émissivité d'une surface en utilisant une approche fractale. Autre [cond-mat.other]. Institut National Polytechnique de Lorraine, 1995. Français. ⟨NNT : 1995INPL115N⟩. ⟨tel-01751568⟩

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