Étude par microscopie électronique des fautes d'empilement et des macles dans le phosphure d'indium déformé - Université de Lorraine Access content directly
Theses Year : 1991

TEM study of stacking faults and twins in plastically deformed indium phosphide

Étude par microscopie électronique des fautes d'empilement et des macles dans le phosphure d'indium déformé

Mohamed Shaker Azzaz
  • Function : Author
  • PersonId : 789838
  • IdRef : 133216047

Abstract

Not available
aDes monocristaux d'InP non dopé et dopé soufre (InP. S) ont été déformés en compression uni axiale, à vitesse imposée, à des températures variant de 0,35 Tf à 0,58 Tf et observée ensuite en microscopie électronique par transmission. Le résultat le plus original est l'observation de fautes d'empilement extrinsèques, fréquentes et étendues, et apparemment simples, pour les deux types de matériau. Dans InP. S uniquement, la déformation a crée des macles de différentes tailles dont l'épaisseur peut atteindre environ 5 microns. Ces macles apparaissent pour des faibles déformations, dès la limite d'élasticité. Ils leurs sont associés des accidents sur les courbes contrainte-déformation. Nous n'avons pas trouvé l'explication satisfaisante pour tous les cas de figures observés. Néanmoins les configurations des micro macles suggèrent l'existence d'un mécanisme de pôles suivant la description de PIROUZ plutôt que celle de VENABLES. En effet nous n'avons pas observé de partielles de Frank et les macles sont situées dans le plan de glissement sollicité
No file

Dates and versions

tel-01752101 , version 1 (29-03-2018)

Identifiers

  • HAL Id : tel-01752101 , version 1

Intranet access

Cite

Mohamed Shaker Azzaz. Étude par microscopie électronique des fautes d'empilement et des macles dans le phosphure d'indium déformé. Autre [cond-mat.other]. Institut National Polytechnique de Lorraine, 1991. Français. ⟨NNT : 1991INPL116N⟩. ⟨tel-01752101⟩
15 View
0 Download

Share

Gmail Facebook X LinkedIn More