Memristive behaviour of high-impedance faults

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Contributeur : Ijl Ul <>
Soumis le : mardi 15 novembre 2016 - 17:09:43
Dernière modification le : mardi 21 août 2018 - 09:46:03

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Etienne Tisserand, Yves Berviller, Jean-Baptiste Humbert. Memristive behaviour of high-impedance faults. Electronics Letters, IET, 2016, 52 (4), pp.300 - 302. 〈10.1049/el.2015.3738〉. 〈hal-01397368〉

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