Time-Resolved X-Ray Stress Analysis in Multilayered Thin Films during Continuous Loading: Use of 2D Remote Detection

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Advanced Materials Research, Trans Tech Publications, 2014, 996, pp.878 - 883. 〈10.4028/www.scientific.net/amr.996.878〉
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Contributeur : Florimonde Lebel <>
Soumis le : vendredi 1 décembre 2017 - 11:06:14
Dernière modification le : mercredi 5 septembre 2018 - 13:30:07

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Citation

Raphaëlle Guillou, Pierre Renault, Eric Le Bourhis, Philippe Goudeau, Pierre Godard, et al.. Time-Resolved X-Ray Stress Analysis in Multilayered Thin Films during Continuous Loading: Use of 2D Remote Detection. Advanced Materials Research, Trans Tech Publications, 2014, 996, pp.878 - 883. 〈10.4028/www.scientific.net/amr.996.878〉. 〈hal-01653215〉

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