Time-Resolved X-Ray Stress Analysis in Multilayered Thin Films during Continuous Loading: Use of 2D Remote Detection - Université de Lorraine
Article Dans Une Revue Advanced Materials Research Année : 2014

Time-Resolved X-Ray Stress Analysis in Multilayered Thin Films during Continuous Loading: Use of 2D Remote Detection

Raphaëlle Guillou
  • Fonction : Auteur
Institut Pprime [UPR 3346]
Pierre P. Renault
Institut Pprime [UPR 3346]
CV
Éric Le Bourhis
Institut Pprime [UPR 3346]
Philippe Goudeau
  • Fonction : Auteur
Institut Pprime [UPR 3346]
Pierre Godard
Institut Pprime [UPR 3346]
Guillaume Geandier
Institut Jean Lamour
Damien Faurie
  • Fonction : Auteur
Laboratoire des Sciences des Procédés et des Matériaux
Dominique Thiaudière
  • Fonction : Auteur
Synchrotron SOLEIL
Cristian Mocuta
Synchrotron SOLEIL

Domaines

Matériaux

florimonde lebel  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.univ-lorraine.fr/hal-01653215

Soumis le : vendredi 1 décembre 2017-11:06:14

Dernière modification le : jeudi 28 novembre 2024-10:50:13

Consulter le texte intégral

Dates et versions

hal-01653215 , version 1 (01-12-2017)

Identifiants

Citer

Raphaëlle Guillou, Pierre P. Renault, Éric Le Bourhis, Philippe Goudeau, Pierre Godard, et al.. Time-Resolved X-Ray Stress Analysis in Multilayered Thin Films during Continuous Loading: Use of 2D Remote Detection. Advanced Materials Research, 2014, 996, pp.878 - 883. ⟨10.4028/www.scientific.net/amr.996.878⟩. ⟨hal-01653215⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

UNIV-PARIS13 CNRS UNIV-POITIERS OCA LSPM_P13 UNIV-LORRAINE INC-CNRS IJL-UL SYNCHROTRON-SOLEIL GALILE PPRIME SORBONNE-PARIS-NORD GS-PHYSIQUE ACT-R IJL-303 ISAE-ENSMA
456 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

More