Residual stress determination in oxide layers at different length scales combining Raman spectroscopy and X-ray diffraction: Application to chromia-forming metallic alloys

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Journal of Applied Physics, American Institute of Physics, 2017, 122 (19), 〈10.1063/1.4990146〉
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Contributeur : Florimonde Lebel <>
Soumis le : lundi 4 décembre 2017 - 10:56:50
Dernière modification le : mardi 27 février 2018 - 14:40:03

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Mathieu Guerain, Jean-Luc Grosseau-Poussard, Guillaume Geandier, Benoit Panicaud, Nobumichi Tamura, et al.. Residual stress determination in oxide layers at different length scales combining Raman spectroscopy and X-ray diffraction: Application to chromia-forming metallic alloys. Journal of Applied Physics, American Institute of Physics, 2017, 122 (19), 〈10.1063/1.4990146〉. 〈hal-01654613〉

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