Measurement of the Surface Recombination Velocity in Organically Functionalized Silicon Nanostructures: The Case of Silicon on Insulator - Université de Lorraine Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Physical Chemistry C Année : 2011
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01866311 , version 1 (03-09-2018)

Identifiants

Citer

Romain Coustel, Quentin Benoît À La Guillaume, Vincent Calvo, Olivier Renault, Lionel Dubois, et al.. Measurement of the Surface Recombination Velocity in Organically Functionalized Silicon Nanostructures: The Case of Silicon on Insulator. Journal of Physical Chemistry C, 2011, 115 (45), pp.22265 - 22270. ⟨10.1021/jp207946e⟩. ⟨hal-01866311⟩
43 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More