Soft X-ray resonnant magnetic reflectivity study of thin films and multilayers - Université de Lorraine
Communication Dans Un Congrès Année : 1998

Soft X-ray resonnant magnetic reflectivity study of thin films and multilayers

Jean-Marc Tonnerre
Laboratoire de Cristallographie
A. Barbara-Déchelette
Laboratoire de Cristallographie
F. Bartolomé
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de Cristallographie
D. Raoux
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de Cristallographie
V. Chakarian
  • Fonction : Auteur
Naval Research Laboratory
Hélène Fischer
Laboratoire de physique des matériaux
CV
Olivier Fruchart
Laboratoire Louis Néel
CV

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Hélène Fischer  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.univ-lorraine.fr/hal-02563344

Soumis le : mardi 5 mai 2020-11:45:45

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:16

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02563344 , version 1 (05-05-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02563344 , version 1

Citer

Jean-Marc Tonnerre, A. Barbara-Déchelette, F. Bartolomé, D. Raoux, V. Chakarian, et al.. Soft X-ray resonnant magnetic reflectivity study of thin films and multilayers. 7th joint MMM Intermag Conference, 1998, San Francisco, United States. ⟨hal-02563344⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS UNIV-LORRAINE IJL-UL IJL-SPIN
18 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More