Accurate calibration and optimized measurement: use of an achromatic compensator in rotating polarizer spectroscopic ellipsometry - Université de Lorraine
Article Dans Une Revue Thin Solid Films Année : 2004

Accurate calibration and optimized measurement: use of an achromatic compensator in rotating polarizer spectroscopic ellipsometry

Domaines

Physique [physics]

LAURENT BROCH  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.univ-lorraine.fr/hal-02900571

Soumis le : jeudi 16 juillet 2020-11:24:18

Dernière modification le : lundi 14 octobre 2024-18:20:53

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hal-02900571 , version 1 (16-07-2020)

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Citer

L. Broch, A. En Naciri, L. Johann. Accurate calibration and optimized measurement: use of an achromatic compensator in rotating polarizer spectroscopic ellipsometry. Thin Solid Films, 2004, 455-456, pp.61-65. ⟨10.1016/j.tsf.2003.11.202⟩. ⟨hal-02900571⟩

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