Ellipsometric investigations of Bi 2 Te 3 thin films grown by electrodeposition - Université de Lorraine Accéder directement au contenu
Poster Année : 2007

Ellipsometric investigations of Bi 2 Te 3 thin films grown by electrodeposition

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2007 poster Ellipso-LEM.pdf (446.05 Ko) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-02900896 , version 1 (16-07-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02900896 , version 1

Citer

Alexandre Zimmer, Nicolas Stein, Luc Johann, M. Stchakovsky, H Terryn, et al.. Ellipsometric investigations of Bi 2 Te 3 thin films grown by electrodeposition. 4th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry, Jun 2007, Stockholm, Sweden. ⟨hal-02900896⟩

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