Atomic Force Microscopy to decipher microbial adhesion - Université de Lorraine
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Atomic Force Microscopy to decipher microbial adhesion

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Origine Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-03550679 , version 1 (01-02-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03550679 , version 1

Citer

Sofiane El-Kirat-Chatel. Atomic Force Microscopy to decipher microbial adhesion. Workshop STINT “The interface between cells and biomaterials”, Madeleine Ramstedt; STINT Swedish Foundation for International Cooperation in Research and Higher Education, Jul 2018, Vindeln, Sweden. ⟨hal-03550679⟩
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