Caractérisation de surfaces organiques moléculaires et polymères par SIMS statique : effet de la métallisation
Résumé
Static SIMS (secondary ion mass spectrometry) is a very powerfull technique, allowing the analysis of the uppermost layers of a sample surface. Monolayers and multilayers of molecular and polymeric organic samples, prepared on metal substrates, are analyzed by static SIMS in order to determine the parameters that are responsible of the formation of main mass spectrum peaks. The influence of the metal substrate, as well as the metallization effect, are studied. On bulk polymers, silver metallization allows an increase of the accessible mass range, and detection of ions arising from cationization of polymer fragments by the metal. Finally, a study of surface oligomers is realized by static SIMS
La spectrométrie de masse d'ions secondaires statique (static SIMS ) est une technique très sensible permettant l'analyse chimique de l'extrême surface d'un échantillon. Des monocouches et des multicouches moléculaires et polymères préparées sur un substrat métallique sont analysées par sims statique afin d'étudier les paramètres responsables de la formation des ions principaux du spectre de masse. L'influence du substrat métallique, ainsi que de la métallisation, est étudiée. Sur des polymères massifs, la métallisation par l'argent permet d'élargir la gamme des masses détectables et de trouver des ions provenant de la cationisation de fragments polymères par le métal. Enfin, une étude d'oligomères de surface d'un polymère est réalisée par SIMS statique
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