Contribution à un modèle d'évaluation quantitative des performances fiabilistes de fonctions électroniques et programmables dédiées à la sécurité :
Abstract
The use of fault-tolerant EP architectures has induced growing constraints, whose influence on reliability-based performance metrics is no more negligible. To face up the growing influence of simultaneous failure, this thesis proposes, for safety-related functions, a new- rend assessment method of reliability, based on a better taking into account of time-aspect. This report introduces the concept of information and uses it to interprete the failure modes of safety-related function as the direct result of the initiation and propagation of erroneous information until the actuator-level. The main idea is to distinguish the apparition and disappearance of erroneous states, which could be defined as intrinsically dependent of HW- characteristic and maintenance policies, and their possible activation, constrainted through architectural choices, leading to the failure of safety-related function. This approach is based on a low level on deterministic SED models of the architecture and use non homogeneous Markov chains to depit the time-evolution of probabilities of errors
L'utilisation d'architectures électroniques et programmables tolérantes aux fautes s'accompagne de contraintes grandissantes qui tendent à influencer fortement la qualité de service de telles fonctions. Devant l'influence grandissante des défaillances multiples sur la fiabilité de fonction de sécurité, cette thèse propose une méthode permettant, par une meilleure prise en compte de l'aspect temporel, d'estimer de manière plus précise les indicateurs de performances fiabilistes d'une fonction EP dédiée à la sécurité. Ce travail introduit le concept d'information et interprète un mode de défaillance de la fonction d'étude comme le résultat de l'initiation et de la propagation d'information(s) erronée(s) jusqu'au niveau des actionneurs. Il propose donc de distinguer d'une part les phénomènes d'apparition et de disparition d'erreurs (matérielles et environnementales), et les séquences d'activation d'erreurs et événements particuliers aboutissant à un mode de défaillance du système
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